纳米粒度及zeta电位分析仪技术解析
一、设备概述
纳米粒度及zeta电位分析仪是材料科学领域的关键检测设备，可同步测定颗粒物粒径分布（范围：10nm-10μm）和表面电荷特性（zeta电位测量范围：-150mV至+150mV）。
二、技术原理
2.1 纳米粒度分析
- 动态光散射（DLS）法：通过光散射强度变化计算粒径
- 马尔文粒度仪采用多角度光散射技术
2.2 zeta电位测量
基于电泳迁移率与电场强度的关系公式：ζ = (μ * E) / (φ)（μ为电泳迁移率，E为电场强度，φ为介质介电常数）
三、应用领域
| 应用场景 | 检测要求 |
|---|---|
| 药物制剂 | 粒径CV≤5%，zeta电位＞±30mV |
| 水处理药剂 | 粒径分布宽比≤1.5 |
四、操作注意事项
- 样品浓度需控制在0.1%-5%范围内
- 每次测量前需进行空白校准（误差＜3%）
- 避免强氧化性物质接触传感器
五、维护保养
- 每周清洗样品池（建议使用去离子水）
- 每季度校准电迁移率电极
- 定期更换循环水系统滤芯（建议6个月更换）
六、常见问题
- Q1：粒径分布异常
- 可能原因：样品团聚（需超声分散30分钟）或折射率误差（需校准标准 spheres）[1]
- Q2：zeta电位漂移
- 可能原因：电极污染（需用0.1mol/L HCl清洗）或电解质浓度偏差[2]